Obiekt

Obiekt planowany

Tytuł: VLSI Testing – part 3

Twórca:

Tyszer, Jerzy

Typ obiektu:

materiały dydaktyczne

Data wydania:

2019.02.22

Liczba stron:

36

Język:

eng

Powiązania:

Politechnika Poznańska ; Wydział Elektroniki i Telekomunikacji ; Katedra Radiokomunikacji

Prawa do dysponowania publikacją:

Politechnika Poznańska

Właściciel praw:

Tyszer, Jerzy

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2019-02-26

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

http://repozytorium.put.poznan.pl/publication/554181

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Nazwa wydania Data

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji