Obiekt

Obiekt planowany

Tytuł: VLSI Testing – parts 1 and 2

Twórca:

Tyszer, Jerzy

Typ obiektu:

materiały dydaktyczne

Data wydania:

2018.12.03

Liczba stron:

82

Język:

eng

Powiązania:

Politechnika Poznańska ; Wydział Elektroniki i Telekomunikacji ; Katedra Radiokomunikacji

Prawa do dysponowania publikacją:

Politechnika Poznańska

Właściciel praw:

Tyszer, Jerzy

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2018-12-04

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

http://repozytorium.put.poznan.pl/publication/546824

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Nazwa wydania Data

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji