Obiekt

Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy z określonej puli adresów ip.
Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy z określonej puli adresów ip.

Tytuł: Optymalizacja wrażliwości i uzysku produkcyjnego w scalonych układach CMOS o wielkiej skali integracji (VLSI)

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2019-09-30

Data dodania obiektu:

2010-02-24

Liczba wyświetleń treści obiektu:

22

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie DjVu

22

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

http://repozytorium.put.poznan.pl/publication/117177

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji