Obiekt

Obiekt planowany

Tytuł: VLSI Testing – Fault simulation

Twórca:

Tyszer, Jerzy

Typ obiektu:

materialy dydaktyczne

Data wydania:

2019.06.17

Liczba stron:

30

Język:

eng

Powiązania:

Politechnika Poznańska ; Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

Udostępniane przez:

Politechnika Poznańska

Właściciel praw:

Tyszer, Jerzy

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

18 cze 2019

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://repozytorium.put.poznan.pl/publication/559958

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Nazwa wydania Data
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji