Obiekt
Tytuł: Charakterystyka uzyskanych warstw arylowych i polimerowych metodami spektroskopii fourierowskiej, spektroskopii Ramana, skaningowej mikroskopii elektronowej, spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, spektroskopii fotoelektronów w zakresie promieniowania X.
Liczba stron:
Język:
Powiązania:
Politechnika Poznańska ; Wydział Technologii Chemicznej ; Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej
Udostępniane przez:
Właściciel praw:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Repozytorium naukowe PP > Jednostki organizacyjne > Wydział Technologii Chemicznej
- Repozytorium naukowe PP > Typy utworów > Materiały dydaktyczne
Data ostatniej modyfikacji:
18 kwi 2019
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
http://repozytorium.put.poznan.pl/publication/556921
Wyświetl opis w formacie RDF:
| Nazwa wydania | Data |
|---|
×
