Object
Title: Charakterystyka uzyskanych warstw arylowych i polimerowych metodami spektroskopii fourierowskiej, spektroskopii Ramana, skaningowej mikroskopii elektronowej, spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, spektroskopii fotoelektronów w zakresie promieniowania X.
NumberOfPages:
Language:
Relation:
Politechnika Poznańska ; Wydział Technologii Chemicznej ; Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej
Rights Management:
Rights holder:
Object collections:
- PUT Scientific Repository > Faculties > Faculty of Chemical Technology
- PUT Scientific Repository > Types of work > Books
Last modified:
Apr 18, 2019
All available object's versions:
http://repozytorium.put.poznan.pl/publication/556921
Show description in RDF format:
| Edition name | Date |
|---|
×
