- O Projekcie O Projekcie
-
Kolekcje
Kolekcje
-
Jednostki organizacyjne
- Wydział Architektury
- Wydział Budownictwa i Inżynierii Środowiska
- Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania
- Wydział Elektroniki i Telekomunikacji
- Wydział Elektryczny
- Wydział Fizyki Technicznej
- Wydział Informatyki
- Wydział Inżynierii Zarządzania
- Wydział Maszyn Roboczych i Transportu
- Wydział Technologii Chemicznej
- Centrum Języków i Komunikacji PP
- Wydawnictwo PP
- Biblioteka PP
- Typy utworów
-
Indeksy
Indeksy
- Tytuł
- Twórca
- Temat i słowa kluczowe
- Opis
- Wydawca
- Typ obiektu
- Identyfikator
- Język
- Powiązania
- Zakres
- Udostępniane przez
- Format
- Data utworzenia lub wydania
- Data modyfikacji
- Prawa
- Prawa dostępu
- Licencja
- Właściciel praw
- Digitalizacja
- Sponsor digitalizacji
- Lokalizacja oryginału
- Dodatkowe informacje administracyjne
- Format obiektu cyfrowego
- Zakres czasowy powstania dokumentu
- Zakres przestrzenny powstania dokumentu
- Informacje o badaniu
- Historia przeglądania Historia przeglądania
Repozytorium Naukowe Politechniki Poznańskiej udostępnia 429 obiektów cyfrowych
Szukana fraza: [Tytuł = "Ocena dokładności firmowego makromodelu tranzystora SiC\-JFET"]
Wyników: 0
Brak wyników. Zmień kryteria wyszukiwania.
